美国SciAps赛谱司
SciAps X-550 为手持式 XRF 设定了新的性能标准。重 2.98 磅。(1.3 kg) 与电池，它是有史以来轻、快、清晰的 X 射线枪。它 在完美平衡的设备中提供了SciAps X 系列的小尺寸、超快速度和高精度。它在所有合金上都很快，包括铝。X-550 使用业界强大的 X 射线管，与 SciAps X-505 和其他手持式 XRF 分析仪相比，在 Beam 2 设置下的运行功率高达 3 倍。独特的几何形状和管功率优化了低原子序数测量应用的性能，包括硫化物腐蚀（低硅）、磷和硫以及铝合金，以及按照 API 751 和 5L 规范进行的残留分析。
高级 X-550 和主力 X-505 型号有什么区别？答案很简单：镁、铝、硅、磷和硫等低原子序数元素的速度。X-550 在“光束 2”设置（也称为低电压）下以大约 3 倍的 X 射线功率运行设置）与 X-505 或其他手持式 XRF 分析仪相比。这意味着来自 Mg、Al、Si、P 和 S（以及其他应用中的 K、Ca 和 Cl）的测量强度高 3 倍，测量速度提高 3 倍。下面显示了一些常见的示例。
| 应用 | X-550 | X-505 | 评论 |
|---|---|---|---|
| 测量铝合金中 0.3% 的镁 | 2 秒 | 7 秒 | 例如，从 357 中排序 Al 356。 |
| 测量钢中的 0.1% Si | 6 秒（1秒 光束 1；5 秒光束 2） | 16 秒（1秒 光束 1；15 秒光束 2） | 硫化物腐蚀，要求钢中的 Si > 0.1%。 |
| 测量钢或不锈钢中的 P 和 S | 对于给定的浓度水平，大约比 X-505 快 3 倍。 | 实际测试时间取决于 P 和 S 的具体浓度水平。 | |
| 分析采矿样品中的低原子序数元素 | 测量 Mg、Al、Si、P、S、Ca 和 K 的速度比 X-505 快 3 倍。 | 可以很好地测量这些元素，其速度与其他高端 XRF 相当。 | X-550 为主要金属、硫化物和污染物 P 提供更快的测试时间。 |
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