材料科学用VeriosXHRSEM-美国THERMO FISHER赛默飞世尔

美国THERMO FISHER赛默飞世尔

型号:

材料科学用Verios™XHRSEM

探索极限高分辨率 SEM 的世界 

Verios SEM 可提供在 1 至 30 kV 能量范围亚纳米分辨率的精准成像。它可实现在一系列应用中材料精准测量所需的极佳对比度，且并不会降低传统 SEM 所具有的高通量、分析能力、样品灵活性及易用性。Verios SEM 采用一些独特的技术，诸如具有更高热稳定性的恒功率透镜以及更高扫描线性的静电扫描。其在进行选择参数、处理大样本或支持分析或光刻等附加应用时是极其灵活的。Verios XHR SEM 允许临时用户和专家在较短的时间内访问准确和完整的纳米级数据，探究既往从其他技术中无法获得的信息。

体验 Verios XHR SEM 所提供的优势：

• 使用较符合您样本要求的操作条件访问准确、真实的纳米级信息：500 eV 及以下（对于非导电样本）、极低剂量操作（对于光束敏感样本）、使用 Elstar™ 单色仪和经优化光学器件以及检测。
• 收集完整的纳米级信息：地形和材料对比度，得益于 Elstar 独特的四重 SE/BSE 检测和滤波；结构对比，得益于我们独特的多分段 STEM 技术。
• 使用 Elstar 精确的静电光束偏转和先进的校准方法，依靠远超出正常 SEM 的准确计量。
• 体验快速和精确的样品管理：容纳大样品，可控清洁样品表面，在极低的放大倍率下快速检查并导航至感兴趣区域。
• 使用电子束光刻进行创新和精确的纳米制造，电子束诱导材料的直接沉积，并在自上而下或倾斜的位置检查创建的 3D 结构。
• 发现一个平台，为临时用户提供简单而稳健的界面，以及对于 SEM 专业人员，他们可以依靠仪器的灵活性和扩展控制精确调整特定实验的仪器。 

联系我们