美国Rigaku
新一代 Rigaku NANHANTER II 台式全反射 X 射线荧光 (TXRF) 光谱仪能够对液体进行高灵敏度的超微量元素分析,达到百分之十亿(ppb)浓度。 全反射 X 射线荧光光谱是一种 X 射线入射光束对样品进行采集的方法,提供低背景噪声,对超微量元素进行高灵敏度测量。Txrf 用于微量元素环境应用。由于环境规定越来越严格,现在需要一种更简单的方法来对工厂废液和废水流进行单元分析。 使用 NANOHunter™ II 光谱仪,即使样品数量非常小,只需在样品载体中加入一滴液体、烘干后进行测量即可达 ppb 水平的分析。 使用内部标准物质的定量分析也可以很容易地进行。台式 TXRF 配备 600 W X 射线管 Powerrigaku 纳米猎人 II TXRF 分析仪结合了全自动光轴调节系统,可以在易于处理的台式尺寸中提供稳定的高灵敏度分析。可实现快速无故障的操作。 NANOHunter II TXRF 光谱仪采用高功率 600 W X 射线源、新开发的镜面(光学)和大面积硅漂移检测器(SDD),具有 16 位自动进样器,可利用快速测量时间实现高吞吐量。全球多地设有办事处
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