美国SciAps赛谱司
X-50 采用 PiN 二极管技术，这是硅漂移探测器出现之前的上一代探测器。PiN 技术处理的 X 射线速率比硅漂移探测器低 10 至 20 倍，并且分辨率低约 100 eV（更大的宽度）。然而，对于许多应用，例如不锈钢、高温合金和铜合金的基本分选，或分析土壤、矿石、粉末等中的贱金属或重金属，PiN 技术是令人满意的。X-50 不会测量 Mg、Al 或 Si，并且在某些材料中可以测量 1% 水平的 P 和 S。与 X 的 SDD 版本相比，检测限将高出 5 倍（提升）。然而，对于运行良好的应用程序而言，X-50 具有极具吸引力的价格点。X-50 包括与其他 X 型号相同的先进 X 射线管（大工作电压为 40 kV），集成摄像头、视频和 Android 操作系统平台。X-50 可用于合金、环境、采矿/勘探、工业和用户可定制的应用。分析仪可以使用基本参数、康普顿归一化（EPA 方法 6200）或用户定义的经验校准进行工厂校准。
40 kV，Rh 阳极（合金）或 Au 阳极（地球化学、土壤、其他）
7 mm2 PIN 二极管，标准 DPP，15k cps，50% 实时
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