美国QUESTAR科视达
| 平台尺寸 | 150 x 120mm(70 x 50mm行程) |
| 测量范围 | 200A~35um(取决于薄膜类型) |
| 测点尺寸 | 一般20um |
| 测量速度 | 1 sec/site |
| 应用领域 |
Polymers : PVA, PET, PP, PR Dielectrics : SiO 2, TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4 Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS. *Supporting up to 3 Layers *Supporting Backside Reflection |
| 镜 筒 | 三筒 |
| 目 镜 | 内倾四孔转换器 |
| 放大倍率 | 40× ~ 500× |
| 照明类型 | 12V 35W卤素灯 内置控制器及变压器 |
全球多地设有办事处
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