美国QUESTAR科视达
平台尺寸 |
1300mm x 1100mm 自动厚度测量 |
测量范围 | 100A~50um(取决于薄膜类型) |
测点尺寸 | 40um/20um/10um/4um(可选20,10,5,2um) |
测量速度 | 1~2 sec/site |
应用领域 |
Polymers : PVA, PET, PP, PR Dielectrics : SiO 2 , TiO 2 , ITO, ZrO 2 , Si 3 N 4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for TFT-LCD, STN-LCD |
选 件 |
可编程自动X-Y-Z平台 自动对焦 CCD摄像头 |
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