美国QUESTAR科视达
ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于分析测量PCB/PWB上OSP涂层铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性已经得到了证实。
为什么要选择 ST4080-OSP? ST4080-OSP 使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。 ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便操作。 ST4080-OSP 测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度. ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更可靠的测量技术。 ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。 ST4080-OSP 可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。 ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序优化。
| 波长范围 | 420nm ~ 640nm |
| 厚度测量范围 | 350A ~ 3μm |
| 小光斑尺寸 | 1.35 μm, 0.135 μm |
| 目标面积 | 864X648 μm / 86.4X64.8 μm |
| 物镜转动架 | 5X(spot size 20 μm), 50X(spot size 0.2 μm) |
| 测量层 | 1 |
| 固定样台面积 | 270mm(L) X 240mm(D) |
| Z轴再现性 | ± 1 μm |
| 自动Z装置 |
Z direction Head Movement Travel range: 50mm Max. velocity: 50mm/s |
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特征 |
Non-destructive OSP thickness measurement No sample preparation for fast and easy operation Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions Auto-focusing function 3D contours results |
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