美国Rigaku
波长色散 (WD) XRF 技术可实现具有高能量分辨率的元素分析(成分和薄膜厚度)。 Rigaku AZX 400 是一款序列式 WDXRF 光谱仪,专门用于处理非常大的和/或重量的样品。 AZX 400 可接受直径 400 毫米、厚 50 毫米和 30 公斤质量的样品,非常适合分析溅射目标、磁盘,或在 Si 晶圆上进行多层薄膜测量。 AZX 400 是一款理想的研发系统,提供*广泛的分析灵活性,涵盖了从 Be 到 U 的元件范围,光点尺寸小于 0.5mm,用于空间分辨率(均匀性)测量。 可选的视频摄像机和照明系统可在 QC 或 FA 应用中查看特定的测量点。 可选的晶圆自动装载机能够处理来自 300 毫米FOUP 或 200 毫米开式磁带的多个晶圆。全球多地设有办事处
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