美泰科仪
型号:MT280
高精密超声波测厚仪
可对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他多种超声波的良导体材料进行厚度测量
测量范围 | 发射-回波模式下(0.65~600)mm(45#钢,探头分段适用);回波-回波模式下(3~100)mm(45#钢,使用P5EE探头) |
工作频率 | (2.5-7)MHZ |
探头直径 | 测厚探头NO5直径10MM、微晶探头N07直径6MM、高温探头HT5直径12MM、窄脉冲测厚探头P5EE直径10MM、粗晶探头直径12MM |
小管径 | Φ15mm×2.0mm |
分辨率 | 0.1mm/0.01mm可选 |
示值误差 | ±0.05mm(≤10mm时);(±0.5%H+0.01)mm(>10mm时);H为被测物厚度 |
测量周期 | 单点测量时每秒钟7次、扫描模式每秒钟16次 |
显示 | 128×64中文点阵液晶显示,高亮度EL背光 |
声速范围 | (1000~9999) m/s |
测厚模式 | 发射-回波模式(P-E)和回波-回波(E-E)模式 |
探头校准 | 零点校准、两点校准 |
反测声速 | 支持,可对已知厚度物体反测声速 |