伊诺斯
型号:小型台式XRD-XRF
BTXPROFILER单样品系统
仪器标配一个样品系统，检测时只能对单个样品进行检测分析，可选配氦气净化装置，有利于Mg、Al、Si、P、S等轻元素的检测。
X射线衍射技术/集成技术
BTX PROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室，该技术曾被美国宇航局火星计划"好奇号"、"漫游者"使用过；XRF技术则是奥林巴斯ED-XRF技术的结晶，两大技术结合，可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息，可减少实验成本，节约时间和空间。BTX PROFILER 采用两套独立的X射线源和探测器，以保证快速获取全面优质的数据信息，XRD部分使用CCD二维面探测
器，该探测器可以获取整个德拜环的衍射数据信息，XRF部分则采用SDD探测器，实现更低的检测下限和更高的灵敏度。
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